手机/电脑/硬盘外壳的平面度如何检测?
在各种电子产品泛滥,竞争激烈的今天,产品外形与产品质量是消费者的重点考虑因素。超薄型电子产品越来越多,各种保护外壳(如手机外壳、手机保护套、笔记本电脑外壳、硬盘外壳等)应运而生。这些外壳在装饰了电子产品的同时也起到了的美化及散热作用。
手机/电脑/硬盘外壳的平面度的检测,传统的测量方式时采用千分尺手动检测,这种方法不仅消耗了大量的人工,而且精确度很低,人工测量带有主观性误差,同时由于采用接触式测量容易划伤产品。针对这一问题,海科思推出多镜头联动手机外壳检测仪。
手机外壳平面度检测仪是由广电检测系统、X轴与Y轴二维移动系统、人机交换系统等几部分构成的光、机、点、控一体化的检测系统。手机外壳平面度测量仪用用了陷阱的光路与激光联动技术,配置有高精度CCD影像和高精度的日本镭射测头系统,采用激光非接触测量,避免与工件接触造成划伤损坏。
此外,针对手机外壳外观尺寸的检测,海科思有手机外壳测量仪。手机外壳测量仪采用我司首创的专利技术之一——多镜头联动高精度高速测量系统,其利用多个镜头同时拍照,并以光罩技术量测出被测量物的具体尺寸,能在1秒内进行多尺寸的高精度快速测量,并自动显示产品是否合格,为各大产家节省大量用工成本,并大大提高了工作效率,此技术已广泛应用在多家国内外大厂所定制的专用测量设备中。
了解设备详情,请致电海科思:400-0528-668
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