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陶瓷介质滤波器平面度测量，两种扫描方式轻松应对全检|激光平面度测量仪

文章出处：网责任编辑：作者：人气：-发表时间：2024-06-03 23:01:00

陶瓷介质滤波器的陶瓷介质基体需要通过高精度CNC加工来确保其自身的尺寸精度，各项外观项目加工中平面度重要性独占一席。因为陶瓷介质基体需要与其他配件如PIN针等进行组装后才是真正的成品，如果陶瓷介质基体的平面度不足就很容易零部件组装错误或者严重点的直接撞坏自动组装线设备，所以陶瓷介质基体需要高精度测量平面度，这让制造者很为难。因为陶瓷介质基体表面会采用化学电镀、喷涂、溅射、丝网印刷等工艺在陶瓷介质基体上覆银层，如果使用传统的塞尺测量会把表面的镀银层磨损脱落影响其功能，这时候就轮到激光平面度测量仪大展拳脚了。

海科思激光平面度测量仪采用高精度探头进行陶瓷介质平面度测量，整个过程无需接触工件表面即可完成，不会产生磨损以及刮花的情况，而且使用激光探头还有一个好处就是精度高于传统测量工具，能达到陶瓷介质滤波器的高标准要求。因为5G还在加快建设中，基站需求也逐日递增，面对陶瓷介质基体这种需要全检的工件平面度翘曲度测量仪也能快速应对，该款设备可一次多片快速测量，速度可达0.5秒/片，具备平面的多点扫描以及线扫描功能，通过算法实时给出平面度、平整度、翘曲度误差测量判定，十分适合陶瓷介质基体批量快速测量。